المؤلفون: Hamioud, K., Arnal, V., Farcy, A., Jousseaume, V., Zenasni, A., Gourhant, O., Icard, B., Pradelles, J., Manakli, S., Brun, Ph., Imbert, G., Jayet, C., Assous, M., Maitrejean, S., Vilmay, M., Galpin, D., Monget, C., Guillan, J., Chhun, S., Richard, E., Barbier, D., Haond, M.

المصدر: 2009 IEEE International Interconnect Technology Conference Interconnect Technology Conference, 2009. IITC 2009. IEEE International. :155-156 Jun, 2009

Relation: 2009 IEEE International Interconnect Technology Conference - IITC

المؤلفون: Gall, S., Olivier, S., Assou, M., Bernard, M., Haumesser, P.H., Jayet, C., Maitrejean, S., Hamioud, K., Arnal, V., Passemard, G.

المصدر: 2008 International Interconnect Technology Conference Interconnect Technology Conference, 2008. IITC 2008. International. :126-128 Jun, 2008

Relation: 2008 International Interconnect Technology Conference - IITC

المؤلفون: Arnal, V., Farcy, A., Aimadeddine, M., Jousseaume, V., Gosset, L.G., Guillan, J., Assous, M., Favennec, L., Zenasni, A., David, T., Hamioud, K., Chapelon, L-L., Jourdan, N., Vanypre, T., Mourier, T., Chausse, P., Maitrejean, S., Guedj, C., Torres, J.

المصدر: 2007 IEEE International Interconnect Technology Conferencee International Interconnect Technology Conference, IEEE 2007. :1-3 Jun, 2007

Relation: 2007 IEEE International Interconnect Technology Conferencee

المؤلفون: Aimadeddine, M., Jousseaume, V., Arnal, V., Favennec, L., Farcy, A., Zenasni, A., Assous, M., Vilmay, M., Jullian, S., Maury, P., Delaye, V., Jourdan, N., Vanypre, T., Brun, P., Imbert, G., LeFriec, Y., Mellier, M., Chaabouni, H., Chapelon, L.L., Hamioud, K., Volpi, F., Louis, D., Passemard, G., Torres, J.

المصدر: 2007 IEEE International Interconnect Technology Conferencee International Interconnect Technology Conference, IEEE 2007. :175-177 Jun, 2007

Relation: 2007 IEEE International Interconnect Technology Conferencee

المؤلفون: Hamioud, K., Arnal, V., Farcy, A., Jousseaume, V., Zenasni, A., Icard, B., Pradelles, J., Manakli, S., Brun, Ph., Imbert, G., Jayet, C., Assous, M., Maitrejean, S., Galpin, D., Monget, C., Guillan, J., Chhun, S., Richard, E., Barbier, D., Haond, M.

المصدر: In Microelectronic Engineering 2010 87(3):316-320

المؤلفون: Chapelon, L.L., Chaabouni, H., Imbert, G., Brun, P., Mellier, M., Hamioud, K., Vilmay, M., Farcy, A., Torres, J.

المصدر: In Microelectronic Engineering 2008 85(10):2098-2101

المؤلفون: Gallitre, M., Blampey, B., Fléchet, B., Farcy, A., Arnal, V., Bermond, C., Lacrevaz, T., Sbugnera, V., Hamioud, K., Aimadeddine, M., Chaabouni, H., Torres, J.

المساهمون: Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), STMicroelectronics, Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMaP), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Domenget, Chahla

المصدر: Materials for Advanced Metallization Conf
Materials for Advanced Metallization Conf, Mar 2008,-, France

مصطلحات موضوعية: [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [SPI.ELEC] Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::a807eb8f99d932911085d18c316e4df7
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397857

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