المؤلفون: Ueno, S., Eimori, T., Kuroiwa, T., Furuta, H., Tsuchimoto, J., Maejima, S., Iida, S., Ohshita, H., Hasegawa, S., Hirano, S., Yamaguchi, T., Kurisu, H., Yutani, A., Hashikawa, N., Maeda, H., Ogawa, Y., Kawabata, K., Okumura, Y., Tsuji, T., Ohtani, J., Tanizaki, T., Yamaguchi, Y., Ohishi, T., Hidaka, H., Takenaga, T., Beysen, S., Kobayashi, H., Oomori, T., Koga T, Ohji, Y.

المصدر: IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :579-582 2004

Relation: 2004 International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Futase, T., Hashikawa, N., Yamamoto, H., Tanimoto, H.

المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 24(2):325-332 May, 2011

المؤلفون: Futase, T., Hashikawa, N., Kamino, T., Fujiwara, T., Inaba, Y., Suzuki, T., Yamamoto, H.

المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 22(4):475-481 Nov, 2009

المؤلفون: Kudo, S., Hirose, Y., Hashikawa, N., Yamaguchi, T., Kashihara, K., Maekawa, K., Asai, K., Murata, N., Asayama, K., Murakami, E.

المصدر: 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2008. IRPS 2008. IEEE International. :580-583 Apr, 2008

Relation: 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

المؤلفون: Yamaguchi, T., Kashihara, K., Kudo, S., Hayashi, K., Hashikawa, N., Okudaira, T., Tsutsumi, T., Maekawa, K., Oda, H., Asai, K., Kojima, M.

المصدر: 2007 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2007. IEDM 2007. IEEE International. :139-142 Dec, 2007

Relation: 2007 IEEE International Electron Devices Meeting

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Asayama, K, Hashikawa, N, Kawakami, M, Mori, H

المساهمون: Cullis, A. G., editor^Aff1, Midgley, P. A., editor^Aff2

المصدر: Microscopy of Semiconducting Materials 2007. 120:329-332

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.