يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Haung, H.S."', وقت الاستعلام: 0.93s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Matching variation after HCI stress in advanced CMOS technology for analog applications

    المؤلفون: Lin, J.C., Chen, S.Y., Chen, H.W., Lin, H.C., Jhou, Z.W., Chou, S., Ko, J., Lei, T.F., Haung, H.S.

    المصدر: 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop Integrated Reliability Workshop Integrated Reliability Workshop Final Report, 2005 IEEE International. :4 pp. 2005

    Relation: 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    An investigation on substrate current and hot carrier degradation at elevated temperatures for nMOSFETs of 0.13 /spl mu/m technology

    المؤلفون: Chen, S.Y., Lin, J.C., Chen, H.W., Jhou, Z.W., Lin, H.C., Chou, S., Ko, J., Lei, T.F., Haung, H.S.

    المصدر: 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop Integrated Reliability Workshop Integrated Reliability Workshop Final Report, 2005 IEEE International. :3 pp. 2005

    Relation: 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء