يعرض 1 - 10 نتائج من 13 نتيجة بحث عن '"Haworth, L. I."', وقت الاستعلام: 0.83s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2010 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2010 IEEE International Conference on. :52-57 Mar, 2010

    Relation: 2010 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 25(3):323-330 Aug, 2012

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 22(1):88-95 Feb, 2009

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: Journal of Microelectromechanical Systems J. Microelectromech. Syst. Microelectromechanical Systems, Journal of. 17(6):1481-1488 Dec, 2008

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 21(4):495-503 Nov, 2008

  6. 6
    مؤتمر

    المصدر: ESSDERC '87: 17th European Solid State Device Research Conference Solid State Device Research Conference, 1987. ESSDERC '87. 17th European. :237-240 Sep, 1987

    Relation: 17th European Solid State Device Research Conference

  7. 7
    دورية أكاديمية
  8. 8
    دورية أكاديمية
  9. 9
    كتاب

    المؤلفون: Haworth, L. I., Murray, A. F.

    المصدر: Encyclopedia of Electrical & Electronics Engineering; 1999 1st Edition, Vol. 18, p220-223, 4p

  10. 10