المؤلفون: Liu, L., Yu, D.L., Chen, W.J., Zhang, K., Li, D., He, X.F., He, X.X., Wei, Y.L., Zhang, N., Yang, Z.C., Yan, L.W., Shi, Z.B., Liu, Y., Yang, Q.W.

المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 48(8):2790-2798 Aug, 2020

المؤلفون: Zhang, F., Cao, Y.Z., He, X.X., Li, F., Shi, J.J., Huang, Q.A., Huang, X.D.

المصدر: 2019 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC), 2019 IEEE International Conference on. :1-3 Jun, 2019

Relation: 2019 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC)

المؤلفون: He, X.X., Chen, S.B., Wu, L.

المصدر: Proceedings of the 3rd World Congress on Intelligent Control and Automation (Cat. No.00EX393) Intelligent control and automation Intelligent Control and Automation, 2000. Proceedings of the 3rd World Congress on. 5:3359-3362 vol.5 2000

Relation: WCICA 2000. Proceedings of the 3rd World Congress on Intelligent Control and Automation

المؤلفون: He, X.X., Wu, L.

المصدر: Proceedings of the 4th World Congress on Intelligent Control and Automation (Cat. No.02EX527) Intelligent control and automation Intelligent Control and Automation, 2002. Proceedings of the 4th World Congress on. 3:1692-1694 vol.3 2002

Relation: Proceedings of the 4th World Congress on Intelligent Control and Automation

المؤلفون: Liu, L., Yu, D.L., Chen, W.J., He, X.F., He, X.X., Wei, Y.L., Li, D., Yang, Z.C., Gao, J.M., Li, Y.G., Zhang, K., Zhou, Y., Yan, L.W., Shi, Z.B., Liu, Y., Yang, Q.W.

المصدر: In Fusion Engineering and Design June 2019 143:41-47

المؤلفون: Zhang, C.H., Chi, Q.G., He, X.X., Lin, J.Q., Chen, Y., Liu, L.Z., Lei, Q.Q.

المصدر: In Journal of Alloys and Compounds 15 November 2016 685:936-940

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.