-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Wang, Z., Povolotskyi, M., Vasileska, D.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3838-3844 Jun, 2024
-
2دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(10):5014-5021 Oct, 2023
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Zhou, ChunhuaAff1, Aff3, Li, YueqingAff1, Aff2, IDs00704024050569_cor2
المصدر: Theoretical and Applied Climatology. 155(8):7095-7108
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Srivastava, S., Shashidhara, M., Acharya, A.
المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 23(1):58-63 Mar, 2023
-
5مؤتمر
المؤلفون: Kumar, Nitish, Kaushik, Pragyey Kumar, Gupta, Ankur, Singh, Pushpapraj
المصدر: 2022 IEEE Delhi Section Conference (DELCON) Delhi Section Conference (DELCON), 2022 IEEE. :1-4 Feb, 2022
Relation: 2022 IEEE Delhi Section Conference (DELCON)
-
6دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(8):4129-4137 Aug, 2022
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kang, S.J., Kim, J.H., Song, Y.S., Go, S., Kim, S.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(3):910-914 Mar, 2022
-
8دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 70(2):1146-1156 Feb, 2022
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Hu, Hongchao, Dai, HongliAff1, IDs42341023004762_cor2, Wang, Luoxin, Lyu, Haitao, Xue, Yuming, Qian, Tu
المصدر: Transactions on Electrical and Electronic Materials. 24(6):538-546
-
10مؤتمر
المؤلفون: Liu, Wei, Ding, Yaru, Zhao, Liang, Zhao, Yi
المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-5 Mar, 2021
Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)