-
1
المؤلفون: Heckendorf, E.
المساهمون: Bakermans-Kranenburg, M.J., IJzendoorn, M.H. van, Huffmeijer, R., Crone, E.A.M., Kemner, C., Peltola, M.J., Leiden University
المصدر: None
مصطلحات موضوعية: Parenting, Childhood experiences, Face processing, Test-retest-reliability, humanities, Kin recognition, Functional MRI
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::4ca4aaa803a9454cbb3265cda2824fb0
http://hdl.handle.net/1887/61482 -
2
المؤلفون: Berge, J., Blok, J., Maldonado, C.G., Heckendorf, E., Holst-Bernal, S., Noten, M., Silva, C. da, Tona, K.D., Truijens, D., Verlinden, E.
المصدر: None
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::315147cf696d81405288e6f129296a64
https://hdl.handle.net/1887/71187 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.