المؤلفون: Richstein, B., Han, Y., Zhao, Q., Hellmich, L., Klos, J., Scholz, S., Schreiber, L.R., Knoch, J.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 43(12):2149-2152 Dec, 2022

المؤلفون: Knoch, J., Richstein, B., Han, Y., Konig, D., Frentzen, M., Hellmich, L., Klos, J., Scholz, S., Zhao, Q.T.

المصدر: 2022 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW) Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2022 IEEE. :1-2 Jun, 2022

Relation: 2022 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW)

المؤلفون: Bengel, C., Siemon, A., Cuppers, F., Hoffmann-Eifert, S., Hardtdegen, A., von Witzleben, M., Hellmich, L., Waser, R., Menzel, S.

المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers IEEE Trans. Circuits Syst. I Circuits and Systems I: Regular Papers, IEEE Transactions on. 67(12):4618-4630 Dec, 2020

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.