-
1تقرير
المصدر: Nanotechnology Perceptions 3 (2007) 43-52.
مصطلحات موضوعية: Physics - General Physics, Physics - Data Analysis, Statistics and Probability, Physics - Instrumentation and Detectors
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/physics/0701249
-
2كتاب إلكتروني
المؤلفون: Heszler, PeterAff3, Aff5, Landström, LarsAff4, Grangvist, Claes-GöranAff3
المساهمون: Granqvist, Claes, editorAff1, Kish, Laszlo, editorAff2, Marlow, William, editorAff2
المصدر: Gas Phase Nanoparticle Synthesis. :69-122
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Bereznai, Miklós, Heszler, Péter, Tóth, Zsolt, Wilhelmsson, Ola, Boman, Mats
المصدر: In Applied Surface Science 2006 252(13):4368-4372
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Kokavecz, János, Heszler, Péter, Tóth, Zsolt, Mechler, Ádám
المصدر: In Applied Surface Science 2003 210(1):123-127
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Szörényi, Tamás a, *, Kántor, Zoltán b, Tóth, Zsolt a, Heszler, Péter a
المصدر: In Applied Surface Science 1999 138:275-279
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Mechler, Ádám a, Heszler, Péter b, *, Kántor, Zoltán a, Szörényi, Tamás b, Bor, Zsolt a
المصدر: In Applied Surface Science 1999 138:174-178
-
7
المؤلفون: Espinosa, E. H., Ionescu, R., Llobet, E., Felten, A., Bittencourt, C., Sotter, E., Topalian, Zareh, 1973, Heszler, Péter, Granqvist, Claes G., Pireaux, J. J., Correig, X.
المصدر: Journal of the Electrochemical Society. 154(5):J141-J149
مصطلحات موضوعية: carbon nanotubes, tungsten compounds, thin films, gas sensors, sputter deposition, X-ray photoelectron spectra, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, TECHNOLOGY, TEKNIKVETENSKAP
وصف الملف: print
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
المؤلفون: Kukovecz, Akos, Heszler, Péter, Kordás, Krisztián, Roth, Siegmar, Kónya, Zoltán, Haspel, Henrik, Ionescu, Radu, Sápi, András, Maklin, Jani, Mohl, Melinda, Gingl, Zoltán, Vajtai, Robert, Kiricsi, Imre, Ajayan, Pulickel M.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2008 Part 2, Issue 1, p70370Y-70370Y-10, 10p
-
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.