المؤلفون: Matsumoto, S., Tanimura, S., Hirofuji, Y.

المصدر: 1999 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings (Cat No.99CH36314) Semiconductor manufacturing Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings, 1999 IEEE International Symposium on. :329-332 1999

Relation: 1999 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings

المؤلفون: Ishizuka, H., Matsumoto, S., Nakata, K., Tanimura, S., Hirofuji, Y.

المصدر: Proceedings of International Symposium on Semiconductor Manufacturing Semiconductor manufacturing Semiconductor Manufacturing, 1995., IEEE/UCS/SEMI International Symposium on. :85-88 1995

Relation: Proceedings of International Symposium on Semiconductor Manufacturing

المؤلفون: Shimizu, N., Naito, Y., Itoh, Y., Shibata, Y., Hashimoto, K., Nishio, M., Asai, A., Ohe, K., Umimoto, H., Hirofuji, Y.

المصدر: 1992 International Technical Digest on Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 1992. IEDM '92. Technical Digest., International. :279-282 1992

Relation: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Fujii, T., Hashimoto, S., Naito, Y., Hirofuji, Y.

المصدر: 1992 International Technical Digest on Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 1992. IEDM '92. Technical Digest., International. :845-848 1992

Relation: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Hirofuji, Y.^Aff2, Inoue, T.^Aff2, Nagase, Y.^Aff2

المساهمون: Moreau, R., editor^Aff1, King, R., editor

المصدر: Fluid Mechanics of Mixing : Modelling, Operations and Experimental Techniques. 10:197-205

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Fang, J., Yamaza, H., Uchiumi, T., Hoshino, Y., Masuda, K., Hirofuji, Y., Wagener, F.A.D.T.G., Kang, D., Nonaka, K.

المصدر: European Journal of Oral Sciences; 241; 245; 0909-8836; 3; 124; ~European Journal of Oral Sciences~241~245~~~0909-8836~3~124~~

URL: http://hdl.handle.net/2066/172319

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.