المؤلفون: Chikaki, S., Shimoyama, M., Yagi, R., Yoshino, T., Shishida, Y., Ono, T., Ishikawa, A., Fujii, N., Nakayama, T., Kohmura, K., Tanaka, H., Kawahara, J., Matsuo, H., Takada, S., Yamanishi, T., Hishiya, S., Hata, N., Kinoshita, K., Kikkawa, T.

المصدر: ISSM 2005, IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing, 2005. Semiconductor Manufacturing Semiconductor Manufacturing, 2005. ISSM 2005, IEEE International Symposium on. :422-425 2005

Relation: ISSM 2005 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing. Conference Proceedings

المؤلفون: Chikaki, S., Shimoyama, A., Yagi, R., Yoshino, T., Ono, T., Ishikawa, A., Fujii, N., Hata, N., Nakayama, T., Kohmura, K., Tanaka, H., Goto, T., Kawahara, J., Sonoda, Y., Matsuo, H., Seino, Y., Takada, S., Kunimi, N., Uchida, Y., Hishiya, S., Shishida, Y., Kinoshita, K., Kikkawa, T.

المصدر: Proceedings of the IEEE 2005 International Interconnect Technology Conference, 2005. Interconnect technology Interconnect Technology Conference, 2005. Proceedings of the IEEE 2005 International. :48-50 2005

Relation: Proceedings of the IEEE 2005 International Interconnect Technology Conference

المؤلفون: Kikkawa, T., Chikaki, S., Yagi, R., Shimoyama, M., Shishida, Y., Fujii, N., Kohmura, K., Tanaka, H., Nakayama, T., Hishiya, S., Ono, T., Yamanishi, T., Ishikawa, A., Matsuo, H., Seino, Y., Hata, N., Yoshino, T., Takada, S., Kawahara, J., Kinoshita, K.

المصدر: IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. International Electron Devices Meeting 2005 Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. IEEE International. :4 pp.-95 2005

Relation: International Electron Devices Meeting 2005

المؤلفون: Uchida, Y., Hishiya, S., Fujii, N., Kohmura, K., Nakayama, T., Tanaka, H., Kikkawa, T.

المصدر: In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2126-2129

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.