يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Hoguet, David"', وقت الاستعلام: 0.80s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Test structures for interdie variations monitoring in presence of statistical random variability

    المؤلفون: Castaneda, Giancarlo, Juge, Andre, Ghibaudo, Gerard, Golanski, Dominique, Hoguet, David, Portal, Jean-Michel, Borot, Bertrand

    المصدر: 2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2012 IEEE International Conference on. :36-42 Mar, 2012

    Relation: 2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء