-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Simeral, J.D., Hosman, T., Saab, J., Flesher, S.N., Vilela, M., Franco, B., Kelemen, J.N., Brandman, D.M., Ciancibello, J.G., Rezaii, P.G., Eskandar, E.N., Rosler, D.M., Shenoy, K.V., Henderson, J.M., Nurmikko, A.V., Hochberg, L.R.
المصدر: IEEE Transactions on Biomedical Engineering IEEE Trans. Biomed. Eng. Biomedical Engineering, IEEE Transactions on. 68(7):2313-2325 Jul, 2021
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Hosman, T., Yeary, M., Antonio, J. K.
المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 60(12):3767-3774 Dec, 2011
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7مؤتمر
المؤلفون: Hosman, T., Yeary, M., Antonio, J.K., Hobbs, B.
المصدر: 2010 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference (I2MTC); 2010, p1424-1429, 6p
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
المصدر: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; Nov/Dec2007, Vol. 25 Issue 6, p2521-2525, 5p, 3 Diagrams, 1 Chart, 2 Graphs
مصطلحات موضوعية: ELECTRON beams, ELECTRONS, INTEGRATED circuits, ELECTRON optics, ELECTRONICS