المؤلفون: Simeral, J.D., Hosman, T., Saab, J., Flesher, S.N., Vilela, M., Franco, B., Kelemen, J.N., Brandman, D.M., Ciancibello, J.G., Rezaii, P.G., Eskandar, E.N., Rosler, D.M., Shenoy, K.V., Henderson, J.M., Nurmikko, A.V., Hochberg, L.R.

المصدر: IEEE Transactions on Biomedical Engineering IEEE Trans. Biomed. Eng. Biomedical Engineering, IEEE Transactions on. 68(7):2313-2325 Jul, 2021

المؤلفون: Hosman, T., Yeary, M., Antonio, J. K.

المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 60(12):3767-3774 Dec, 2011

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Hosman, T., Yeary, M., Antonio, J.K., Hobbs, B.

المصدر: 2010 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference (I2MTC); 2010, p1424-1429, 6p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Van Himbergen, H. M. P., Nijkerk, M. D., De Jager, P. W. H., Hosman, T. C., Kruit, P.

المصدر: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; Nov/Dec2007, Vol. 25 Issue 6, p2521-2525, 5p, 3 Diagrams, 1 Chart, 2 Graphs

مصطلحات موضوعية: ELECTRON beams, ELECTRONS, INTEGRATED circuits, ELECTRON optics, ELECTRONICS