يعرض 1 - 10 نتائج من 377 نتيجة بحث عن '"Hsu, S. K."', وقت الاستعلام: 1.01s تنقيح النتائج
  1. 1
  2. 2
    مؤتمر

    المصدر: 2018 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS Microwave Symposium - IMS, 2018 IEEE/MTT-S International. :1542-1544 Jun, 2018

    Relation: 2018 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2018

  3. 3
    مؤتمر

    المصدر: Proceedings of International Conference on Planarization/CMP Technology 2014 Planarization/CMP Technology (ICPT), 2014 International Conference on. :186-189 Nov, 2014

    Relation: 2014 International Conference on Planarization/CMP Technology (ICPT)

  4. 4
    مؤتمر

    المصدر: Proceedings of International Conference on Planarization/CMP Technology 2014 Planarization/CMP Technology (ICPT), 2014 International Conference on. :221-224 Nov, 2014

    Relation: 2014 International Conference on Planarization/CMP Technology (ICPT)

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 50(1):59-67 Jan, 2015

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Lin, T.-H., Hsu, S.-K., Wu, T.-L.

    المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 61(12):4099-4109 Dec, 2013

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Yen, J.-C., Hsu, S.-K., Lin, T.-H., Wu, T.-L.

    المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 61(1):38-47 Jan, 2013

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 48(1):118-127 Jan, 2013

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 48(1):128-139 Jan, 2013

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 47(11):2807-2821 Nov, 2012