-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Sibai, A., Lhostis, S., Rozier, Y., Salicio, O., Amtablian, S., Dubois, C., Legrand, J., Sénateur, J.P., Audier, M., Hubert-Pfalzgraff, L., Dubourdieu, C., Ducroquet, F.
المصدر: In Microelectronics Reliability 2005 45(5):941-944