يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Huey-Ming Huang"', وقت الاستعلام: 1.16s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Gate oxide multiple soft breakdown (Multi-SBD) impact on CMOS inverter

    المؤلفون: Huey-Ming Huang, Ko, C.Y., Yang, M.L., Liao, P.J., Wang, J.J., Oates, A., Wu, K.

    المصدر: 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings Reliability physics Reliability Physics Symposium Proceedings, 2004. 42nd Annual. 2004 IEEE International. :593-594 2004

    Relation: 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    Gate oxide multiple soft breakdown (Multi-SBD) impact on CMOS inverter

    المؤلفون: J.J. Wang, Huey-Ming Huang, P.J. Liao, M.L. Yang, K. Wu, C.Y. Ko, A. Oates

    المصدر: 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings.

    مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Electrical engineering, Time-dependent gate oxide breakdown, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Noise margin, CMOS, Gate oxide, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electronic engineering, Inverter, Breakdown voltage, business, AND gate, Hardware_LOGICDESIGN, Leakage (electronics)

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6a25a14a6d12b7eb7ce9ae0602d8d1a4
    https://doi.org/10.1109/relphy.2004.1315405

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء