المؤلفون: van Sas, J., Huyskens, E., Naert, H., Schell, F., van de Goor, A.

المصدر: Proceedings of 1995 IEEE International Test Conference (ITC) International test conference Test Conference, 1995. Proceedings., International. :252-261 1995

Relation: Proceedings of 1995 IEEE International Test Conference (ITC)

المؤلفون: van Sas, J., Van Wauwe, G., Huyskens, E., Rabaey, D.

المصدر: Proceedings of IEEE International Test Conference - (ITC) International test conference Test Conference, 1993. Proceedings., International. :339-348 1993

Relation: Proceedings of IEEE International Test Conference - (ITC)

المؤلفون: Van Wauwe, G., Huyskens, E.

المصدر: Third Annual IEEE Proceedings on ASIC Seminar and Exhibit ASIC Seminar and Exhibit, 1990. Proceedings., Third Annual IEEE. :P14/8.1-P14/8.4 1990

Relation: Third Annual IEEE Proceedings on ASIC Seminar and Exhibit

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.