-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Frederic Schell, Christoph Zwahr, Andrés F. Lasagni
المصدر: Nanomaterials, Vol 14, Iss 13, p 1076 (2024)
مصطلحات موضوعية: surface roughness, periodic microtextures, Python library, confocal microscopy, Surfalize, ISO 25178, Chemistry, QD1-999
وصف الملف: electronic resource
-
2
المؤلفون: Brugés Martelo, Javier Mauricio, Thim, Jan, 1977, Andersson, Mattias, 1973, Liguori, Consolatina
المصدر: Nordic Pulp & Paper Research Journal. 36(2):276-283
مصطلحات موضوعية: ISO 25178, optical profilometry, surface roughness, material characterization, inter-instrument comparison
وصف الملف: electronic
URL الوصول: https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:miun:diva-41378
https://doi.org/10.1515/npprj-2021-0003
https://miun.diva-portal.org/smash/get/diva2:1533932/FULLTEXT01.pdf -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Koyo Sato, Takao Sato, Mugino O. Kubo
المصدر: Frontiers in Ecology and Evolution, Vol 10 (2022)
مصطلحات موضوعية: Archaeology, Jomon period, Torihama Shell Midden site, Sika deer, Microwear, ISO 25178, Evolution, QH359-425, Ecology, QH540-549.5
وصف الملف: electronic resource
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Kohga Miyamoto, Mugino O. Kubo, Yasushi Yokohata
المصدر: Frontiers in Ecology and Evolution, Vol 10 (2022)
مصطلحات موضوعية: Sus scrofa, ISO 25178, tooth wear, rooting, diets, foraging ecology, Evolution, QH359-425, Ecology, QH540-549.5
وصف الملف: electronic resource
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Calandra, IvanAff1, Schunk, LisaAff1, Aff2, Rodriguez, Alice, Gneisinger, Walter, Pedergnana, Antonella, Paixao, EduardoAff1, Aff4, Pereira, Telmo, Iovita, RaduAff3, Aff5, Marreiros, JoaoAff1, Aff2, Aff4
المصدر: Archaeological and Anthropological Sciences. 11(11):5937-5948
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Levrel Enora, Binti Mohd Safie Siti Nursyafinaz, Malécot Pierrick, Lambert Virgile, Fontaine Michael, Hallez Loic, Lallemand Séverine
المصدر: MATEC Web of Conferences, Vol 368, p 01016 (2022)
مصطلحات موضوعية: surface metrology, multiscale, wavelet, surface analysis, coating adhesion, iso 4287-4288, iso 25178, Engineering (General). Civil engineering (General), TA1-2040
وصف الملف: electronic resource
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: D’Urso, G.Aff1, Giardini, C.Aff1, Quarto, M.Aff1
المصدر: The International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 97(5-8):2077-2085
-
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.