يعرض 1 - 10 نتائج من 885 نتيجة بحث عن '"Ielmini D"', وقت الاستعلام: 0.94s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Drift Compensation in Multilevel PCM for in-Memory Computing Accelerators

    المؤلفون: Pistolesi, L., Glukhov, A., de Gracia Herranz, A., Lopez-Vallejo, M., Carissimi, M., Pasotti, M., Rolandi, P., Redaelli, A., Martin, I. Munoz, Bianchi, S., Bonfanti, A., Ielmini, D.

    المصدر: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-4 Apr, 2024

    Relation: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Programming Characteristics of Electrochemical Random Access Memory (ECRAM)—Part I: Experimental Study

    المؤلفون: Porzani, M., Ricci, S., Farronato, M., Ielmini, D.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(5):3240-3245 May, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Programming Characteristics of Electrochemical Random Access Memory (ECRAM)—Part II: Physics-Based Modeling

    المؤلفون: Porzani, M., Carletti, F., Ricci, S., Farronato, M., Ielmini, D.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(5):3246-3251 May, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    In-Memory Principal Component Analysis by Analogue Closed-Loop Eigendecomposition

    المؤلفون: Mannocci, P., Giannone, E., Ielmini, D.

    المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 71(4):1839-1843 Apr, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Compact Modeling and Mitigation of Parasitics in Crosspoint Accelerators of Neural Networks

    المؤلفون: Lepri, N., Glukhov, A., Mannocci, P., Porzani, M., Ielmini, D.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(3):1900-1906 Mar, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    An SRAM-based reconfigurable analog in-memory computing circuit for solving linear algebra problems

    المؤلفون: Mannocci, P., Melacarne, E., Pezzoli, A., Pedretti, G., Villa, C., Sancandi, F., Spagnolini, U., Ielmini, D.

    المصدر: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023

    Relation: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    In-memory neural network accelerator based on phase change memory (PCM) with one-selector/one-resistor (1S1R) structure operated in the subthreshold regime

    المؤلفون: Lepri, N., Gibertini, P., Mannocci, P., Pirovano, A., Tortorelli, I., Fantini, P., Ielmini, D.

    المصدر: 2023 IEEE International Memory Workshop (IMW) Memory Workshop (IMW), 2023 IEEE International. :1-4 May, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Memory Workshop (IMW)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Process-Voltage-Temperature Variations Assessment in Energy-Aware Resistive RAM-Based FPGAs

    المؤلفون: Rizzi, T., Baroni, A., Glukhov, A., Bertozzi, D., Wenger, C., Ielmini, D., Zambelli, C.

    المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 23(3):328-336 Sep, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Enhancing reliability of a strong physical unclonable function (PUF) solution based on virgin-state phase change memory (PCM)

    المؤلفون: Cattaneo, L., Baldo, M., Lepri, N., Sancandi, F., Borghi, M., Petroni, E., Serafini, A., Annunziata, R., Redaelli, A., Ielmini, D.

    المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-6 Mar, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Unveiling Retention Physical Mechanism of Ge-rich GST ePCM Technology

    المؤلفون: Laurin, L., Baldo, M., Petroni, E., Samanni, G., Turconi, L., Motta, A., Borghi, M., Serafini, A., Codegoni, D., Scuderi, M., Ran, S., Claverie, A., Ielmini, D., Annunziata, R., Redaelli, A.

    المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-7 Mar, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء