يعرض 1 - 10 نتائج من 77 نتيجة بحث عن '"Impronta, M."', وقت الاستعلام: 1.00s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Avalanche electron injection in 4-nm Si/sub 3/N/sub 4//8-nm SiO/sub 2/ dielectric structure: turn-around phenomenon and Si-SiO/sub 2/ interface degradation

    المؤلفون: Dori, L., Severi, M., Impronta, M., Sun, J.Y.-C., Arienzo, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 37(1):177-182 Jan, 1990

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Shallow junction formation using MoSi2 as diffusion source

    المؤلفون: Angelucci, R., Impronta, M., Pizzochero, G., Poggi, A., Solmi, S., Canteri, R.

    المصدر: ESSDERC '92: 22nd European Solid State Device Research conference Solid State Device Research Conference, 1992. ESSDERC '92. 22nd European. :673-676 Sep, 1992

    Relation: Proceedings of the 22nd European Solid State Device Research Conference - ESSDERC '92

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Resistance instability in Cu-damascene structures during the isothermal electromigration test

    المؤلفون: Impronta, M., Farris, S., Ficola, A., Scorzoni, A.

    المصدر: 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop Integrated Reliability Workshop Integrated Reliability Workshop Final Report, 2005 IEEE International. :4 pp. 2005

    Relation: 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Process dependence of hole trapping in thin nitrided SiO/sub 2/ films

    المؤلفون: Severi, M., Dori, L., Impronta, M., Guerri, S.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 36(11):2447-2451 Nov, 1989

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Process Dependence of Hole Trapping in Nitrided SiO2 Films

    المؤلفون: Severi, M., Impronta, M., Dori, L., Guerri, S.

    المصدر: ESSDERC '88: 18th European Solid State Device Research Conference Solid State Device Research Conference, 1988. ESSDERC '88. 18th European. :c4-417-c4-420 Sep, 1988

    Relation: 18th European Solid State Device Research Conference

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Charge Trapping in Dry and Pyrogenic Gate Oxides

    المؤلفون: Severi, M., Impronta, M., Negrini, P., Vassura, S.

    المصدر: ESSDERC '89: 19th European Solid State Device Research Conference Solid State Device Research Conference, 1989. ESSDERC '89. 19th European. :349-352 Sep, 1989

    Relation: 19th European Solid State Device Research Conference

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Effect of thermally nitrided SiO2thickness on MIS characteristics

    المؤلفون: Severi, M., Dori, L., Impronta, M.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 6(1):3-5 Jan, 1985

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Early Detection of the Metallization Quality Using Moderately Accelerated Electromigration Stress Conditions

    المؤلفون: Scorzoni, A.Aff13, De Munari, I., Impronta, M., Balboni, R., Kelaidis, N.Aff13, Aff43, Foley, S., Forde, M.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library. 516(1):15-25

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    Evaluation of the thermal resistance of AlCu electromigration test structures

    المؤلفون: Braghieri, A., De Munari, I., Impronta, M., Scorzoni, A.

    المصدر: In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1317-1322

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    Early electromigration effects and early resistance changes

    المؤلفون: Scorzoni, A., De Munari, I., Impronta, M. *, Kelaidis, N.

    المصدر: In Microelectronics Reliability 1999 39(11):1647-1656

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء