يعرض 1 - 10 نتائج من 1,046 نتيجة بحث عن '"Imura, K."', وقت الاستعلام: 1.05s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Small-Signal and Large-Signal RF Characterization and Modeling of Low and High Voltage FinFETs for 14/16 nm Technology Node SoCs

    المؤلفون: Kar, A., Parihar, S.S., Huang, J.Z., Zhang, H., Wang, W., Imura, K., Chauhan, Y.S.

    المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 12:415-425 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Nonconducting RF and DC Hot Carrier Stresses in 14/16-nm FinFETs for RF Power Amplifiers

    المؤلفون: Ding, X., Niu, G., Zhang, H., Wang, W., Imura, K., Dai, F.F.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(8):4028-4035 Aug, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    A Comprehensive RF Characterization and Modeling Methodology for the 5nm Technology Node FinFETs

    المؤلفون: Parihar, S.S., Pampori, A., Dwivedi, P., Huang, J., Wang, W., Imura, K., Hu, C., Chauhan, Y.S.

    المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 11:444-455 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Impact of non-Conducting RF and DC Hot Carrier Stresses on FinFET Reliability for RF Power Amplifiers

    المؤلفون: Ding, X., Niu, G., Zhang, H., Wang, W., Imura, K., Dai, F.

    المصدر: 2022 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC) Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC), 2022 IEEE. :199-202 Jun, 2022

    Relation: 2022 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    تقرير
    Theory of non-equilibrium noise in general multi-terminal superconducting hydrid devices: application to multiple Cooper pair resonances

    المؤلفون: Jacquet, R., Popoff, A., Imura, K. -I., Rech, J., Jonckheere, T., Raymond, L., Zazunov, A., Martin, T.

    المصدر: Phys. Rev. B 102, 064510 (2020)

    مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Superconductivity

    URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2009.00095

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Intermodulation Linearity Characteristics of 14-nm RF FinFETs

    المؤلفون: Zhang, J., Niu, G., Cai, W., Wang, W., Imura, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 66(6):2520-2526 Jun, 2019

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Extraction of Drain Current Thermal Noise in a 28 nm High- ${k}$ /Metal Gate RF CMOS Technology

    المؤلفون: Zhang, H., Niu, G., Liang, Q., Imura, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 65(6):2393-2399 Jun, 2018

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    تقرير
    Kondo-induced giant isotropic negative thermal expansion

    المؤلفون: Mazzone, D. G., Dzero, M., Abeykoon, M., Yamaoka, H., Ishii, H., Hiraoka, N., Rueff, J. P., Ablett, J., Imura, K., Suzuki, H. S., Hancock, J. N., Jarrige, I.

    المصدر: Phys. Rev. Lett. 124, 125701 (2020)

    مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Strongly Correlated Electrons

    URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1905.03090

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    تقرير
    Direct observation of heterogeneous valence state in Yb-based quasicrystalline approximants

    المؤلفون: Matsunami, M., Oura, M., Tamasaku, K., Ishikawa, T., Ideta, S., Tanaka, K., Takeuchi, T., Yamada, T., Tsai, A. P., Imura, K., Deguchi, K., Sato, N. K., Ishimasa, T.

    المصدر: Phys. Rev. B 96, 241102(R) (2017)

    مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Strongly Correlated Electrons, Condensed Matter - Materials Science

    URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1712.04113

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    Electrical Characteristics of a-IGZO TFTs With ${\hbox{SiO}}_{2}$ Gate Insulator Prepared by RF Sputtering

    المؤلفون: Kim, J.-K., Jeong, S.-H., Oh, S.-A., Moon, S.-J., Imura, K., Okada, T., Noguchi, T., Yun, E.-J., Bae, B. S.

    المصدر: Journal of Display Technology J. Display Technol. Display Technology, Journal of. 12(3):268-272 Mar, 2016

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء