يعرض 1 - 10 نتائج من 69 نتيجة بحث عن '"Indaco, M."', وقت الاستعلام: 1.95s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) Test Symposium (ETS), 2015 20th IEEE European. :1-6 May, 2015

    Relation: 2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS)

  2. 2
    مؤتمر

    المصدر: 2014 9th International Design and Test Symposium (IDT) Design & Test Symposium (IDT), 2014 9th International. :67-72 Dec, 2014

    Relation: 2014 9th International Design & Test Symposium (IDT)

  3. 3
    مؤتمر

    المصدر: 2014 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2014 IEEE International Symposium on. :75-80 Oct, 2014

    Relation: 2014 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

  4. 4
    مؤتمر

    المصدر: 2013 IEEE 19th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2013 IEEE 19th International. :199-204 Jul, 2013

    Relation: 2013 IEEE 19th International On-Line Testing Symposium (IOLTS)

  5. 5
    مؤتمر

    المصدر: 2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2012. :881-886 Mar, 2012

    Relation: 2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2012)

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 34(10):1627-1638 Oct, 2015

  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  8. 8
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  9. 9
    دورية أكاديمية
  10. 10
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.