المؤلفون: Insinga, G., Battilana, M., Coppetta, M., Mautone, N., Carnevale, G., Giltrelli, M., Scaramuzza, P., Ullmann, R.

المصدر: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2023 IEEE. :1-6 May, 2023

Relation: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS)

المؤلفون: Bernardi, P., Cantoro, R., Coyette, A., Dobbeleare, W., Fieback, M., Floridia, A., Gielen, G., Gomez, J., Grosso, M., Guerriero, A.M., Guglielminetti, I., Hamdioui, S., Insinga, G., Mautone, N., Mirabella, N., Sartoni, S., Reorda, M.S., Ullmann, R., Vanhooren, R., Xama, N., Wu, L.

المصدر: 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2022 IEEE 28th International Symposium on. :1-10 Sep, 2022

Relation: 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)

المؤلفون: Bernardi, P., Insinga, G., Paganini, G., Cantoro, R., Beer, P., Coppetta, M., Mautone, N., Carnevale, G., Scaramuzza, P., Ullmann, R.

المصدر: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) Test Symposium (ETS), 2022 IEEE European. :1-6 May, 2022

Relation: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS)

المؤلفون: Abbati, L. Degli, Ullmann, R., Paganini, G., Coppetta, M., Zaia, L., Huard, V., Montfort, O., Cantoro, R., Insinga, G., Venini, F., Calao, P., Bernardi, P.

المصدر: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021 IEEE International Symposium on. :1-6 Oct, 2021

Relation: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

المؤلفون: Bernardi, P., Insinga, G., Paganini, G., Cantoro, R., Beer, P., Coppetta, M., Mautone, N., Carnevale, G., Scaramuzza, P., Ullmann, R.

المصدر: UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)

مصطلحات موضوعية: Microelectronics, Integrated circuits, Microelectrònica, Spintronics, Automotive SoC, Circuits integrats, Espintrònica, Memory diagnosis, Reliability, Enginyeria electrònica::Microelectrònica [Àrees temàtiques de la UPC]

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::60661b92dd3ce6efc716564d87fe6c4e
https://hdl.handle.net/2117/372157

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.