يعرض 1 - 10 نتائج من 886 نتيجة بحث عن '"Integrated circuit manufacture"', وقت الاستعلام: 0.95s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Unlocking Circuits for Quantum With Open Source Silicon: A first look at measured open source silicon results at 4 K

    المؤلفون: Li, A., Zeng, T., Zhang, L., Riem, J., Adam, G.C., Fleischer, D.L., Zaslavsky, A., Patterson, W.R., Ansell, T., Akturk, A., Hoskins, B., Shrestha, P.R., Saligane, M.

    المصدر: IEEE Solid-State Circuits Magazine IEEE Solid-State Circuits Mag. Solid-State Circuits Magazine, IEEE. 16(2):39-48 Jan, 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Corrections to “Low-Temperature Microwave Annealing Processes for Future IC Fabrication—A Review” [Mar 14 651-665]

    المؤلفون: Lee, Y., Cho, T., Chuang, S., Hsueh, F., Lu, Y., Sung, P., Chen, H., Current, M.I., Tseng, T., Chao, T., Hu, C., Yang, F.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(7):3983-3983 Jul, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    A Variational Autoencoder Enhanced Deep Learning Model for Wafer Defect Imbalanced Classification

    المؤلفون: Wang, S., Zhong, Z., Zhao, Y., Zuo, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology IEEE Trans. Compon., Packag. Manufact. Technol. Components, Packaging and Manufacturing Technology, IEEE Transactions on. 11(12):2055-2060 Dec, 2021

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Expansion of the Fused Filament Fabrication (FFF) Process Through Wire Embedding, Automated Cutting, and Electrical Contacting

    المؤلفون: Ziervogel, F., Boxberger, L., Bucht, A., Drossel, W.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 9:43036-43049 2021

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Matheuristics for Qualification Management Decisions in Wafer Fabs

    المؤلفون: Kopp, D., Monch, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 33(4):511-521 Nov, 2020

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    A Novel Method to Quantify Conditioner-to-Conditioner Variation and Predict Conditioner Lifetime and Process Failure Mode in Chemical Mechanical Planarization (CMP) Environment

    المؤلفون: Gowda, A., Rai, S., Zhuang, Y., Fan, W.

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 33(4):614-621 Nov, 2020

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    The Solution of AIO-ET Via Open and Process Window Improvement

    المؤلفون: Zhang, Baichun, Yang, Jianguo, Sun, Lei, Li, Quanbo, Huang, Jun, Zhang, Yu

    المصدر: 2020 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2020 China. :1-3 Jun, 2020

    Relation: 2020 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Analysis of Security of Split Manufacturing Using Machine Learning

    المؤلفون: Zeng, W., Zhang, B., Davoodi, A.

    المصدر: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 27(12):2767-2780 Dec, 2019

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    FDSOI Sip Epitaxy Optimization for Leakage Reducing

    المؤلفون: Hong, Jiaqi, Yan, Qiang, Tan, Jun

    المصدر: 2021 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2021 China. :1-2 Mar, 2021

    Relation: 2021 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    Scanning Laser Lithography With Constrained Quadratic Exposure Optimization

    المؤلفون: Fleming, A.J., Ghalehbeygi, O.T., Routley, B.S., Wills, A.G.

    المصدر: IEEE Transactions on Control Systems Technology IEEE Trans. Contr. Syst. Technol. Control Systems Technology, IEEE Transactions on. 27(5):2221-2228 Sep, 2019

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء