-
1دورية أكاديمية
المصدر: The Journal of Supercomputing: An International Journal of High-Performance Computer Design, Analysis, and Use. 80(5):6169-6191
-
2مؤتمر
المؤلفون: Suzumura, N., Omori, K., Tsuchiya, H., Aono, H., Yamashita., T.
المصدر: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020 IEEE International. :1-6 Apr, 2020
Relation: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: C. Helke, C.H. Canpolat-Schmidt, G. Heldt, S. Schermer, S. Hartmann, A. Voigt, D. Reuter
المصدر: Micro and Nano Engineering, Vol 19, Iss , Pp 100189- (2023)
مصطلحات موضوعية: electron beam lithography, i-line stepper lithography, Negative tone resist, ma-N 1402, Mix and match, Intra level, Electronics, TK7800-8360, Technology (General), T1-995
وصف الملف: electronic resource
-
4مؤتمر
المؤلفون: Fang-Hao Hsu, Kuo-Feng Lo, Xin-Guan Lin, Han-Hui Hsu, Yuan-Chieh Chiu, Hong-Ji Lee, Nan-Tzu Lian, Tahone Yang, Kuang-Chao Chen, Chih-Yuan Lu
المصدر: 25th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC 2014) Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2014 25th Annual SEMI. :242-244 May, 2014
Relation: 2014 25th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC)
-
5مؤتمر
المؤلفون: Suzumura, N., Ogasawara, M., Furuhashi, T., Koyama, T.
المصدر: 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2014 IEEE International. :3A.4.1-3A.4.6 Jun, 2014
Relation: 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kistler, Max
المصدر: Synthese, 2006 Aug 01. 151(3), 347-354.
URL الوصول: https://www.jstor.org/stable/20118813
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.