-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: O. Sheehy, S. Eltonsy, S. Hawken, M. Walker, P. Kaul, B. Winquist, O. Barrett, A. Savu, R. Dragan, M. Pugliese, S. Bernatsky, J. Gorgui, A. Bérard
المصدر: Scientific Reports, Vol 14, Iss 1, Pp 1-11 (2024)
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2045-2322
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: A. Berard, V. Tchuente, N. Pages, J. Gorgui, T. Fareh, S. King, G. Elgbeili
المصدر: European Psychiatry, Vol 66, Pp S339-S339 (2023)
مصطلحات موضوعية: Psychiatry, RC435-571
وصف الملف: electronic resource
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: A. Berard, A. Lacasse, Y.-H. Gomez, J. Gorgui, S. Côté, S. King, V. Tchuente, F. Muanda, Y. Lumu, I. Boucoiran, A.-M. Nuyt, C. Quach, E. Ferreira, P. Kaul, B. Winquist, K. O’Donnell, S. Eltonsy, D. Château, J.-P. Zhao, G. Hanley, T. Oberlander, B. Kassai, S. Mainbourg, S. Bernatsky, É. Vinet, A. Brodeur-Doucet, J. Demers, P. Richebé, V. Zaphiratos, C. Wang, X. Wang
المصدر: European Psychiatry, Vol 65, Pp S209-S210 (2022)
مصطلحات موضوعية: COVID-19 pandemic, maternal mental health during pregnancy, country/continent variations, Edinburgh Perinatal Depression Scale (EPDS), Psychiatry, RC435-571
وصف الملف: electronic resource
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: K. Pahn, S. Pamidi, Y.H. Gomez, J. Gorgui, A. El-Messidi, R. Gagnon, R.J. Kimoff, H.A. Abenhaim, S.S. Daskalopoulou
المصدر: Obstetric Anesthesia Digest. 43:35-35
مصطلحات موضوعية: Management of Technology and Innovation
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::69a95ef2fd101af151687cadbe5d600d
https://doi.org/10.1097/01.aoa.0000912352.68128.9b -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.