-
1
المؤلفون: J. R. Power, D. Shum, Y. Gong, S. Bogacz, J. Haeupel, H. Estel, R. Strenz, R. Kakoschke, K. van der Zanden, R. Allinger, G. Jaschke
المصدر: 2008 Joint Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop and International Conference on Memory Technology and Design.
مصطلحات موضوعية: Flash (photography), chemistry.chemical_compound, Reliability (semiconductor), Materials science, Cellular array, chemistry, Electronic engineering, Oxide, Dielectric, Voltage
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ab5caae74b8b452c6ac50be19954f317
https://doi.org/10.1109/nvsmw.2008.33 -
2مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.