يعرض 1 - 10 نتائج من 313 نتيجة بحث عن '"Jenkins, Keith A."', وقت الاستعلام: 0.98s تنقيح النتائج
  1. 1
    كتاب إلكتروني
    Measurement of the Transient Response of Transistors

    المؤلفون: Jenkins, Keith A.Aff2

    المساهمون: Jenkins, Keith A.Aff1

    المصدر: RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors. :127-159

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    كتاب إلكتروني
    Measurement of the Frequency Response of Transistors

    المؤلفون: Jenkins, Keith A.Aff2

    المساهمون: Jenkins, Keith A.Aff1

    المصدر: RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors. :37-68

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    كتاب إلكتروني
    The Novel Transistor Characterization Challenge

    المؤلفون: Jenkins, Keith A.Aff2

    المساهمون: Jenkins, Keith A.Aff1

    المصدر: RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors. :1-9

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    كتاب إلكتروني
    Measurement of the AC Linearity of Transistors

    المؤلفون: Jenkins, Keith A.Aff2

    المساهمون: Jenkins, Keith A.Aff1

    المصدر: RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors. :89-102

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    كتاب إلكتروني
    Measurement of the Large-Signal Propagation Delay of Single Transistors

    المؤلفون: Jenkins, Keith A.Aff2

    المساهمون: Jenkins, Keith A.Aff1

    المصدر: RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors. :103-126

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    كتاب إلكتروني
    High-Frequency Test Equipment, Connections, and Contact with Transistors

    المؤلفون: Jenkins, Keith A.Aff2

    المساهمون: Jenkins, Keith A.Aff1

    المصدر: RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors. :11-35

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    كتاب إلكتروني
    Case Studies in the Evaluation of Novel Transistors

    المؤلفون: Jenkins, Keith A.Aff2

    المساهمون: Jenkins, Keith A.Aff1

    المصدر: RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors. :69-87

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    A statistical critical path monitor in 14nm CMOS

    المؤلفون: Fleischer, Bruce, Vezyrtzis, Christos, Balakrishnan, Karthik, Jenkins, Keith A.

    المصدر: 2016 IEEE 34th International Conference on Computer Design (ICCD) Computer Design (ICCD), 2016 IEEE 34th International Conference on. :507-511 Oct, 2016

    Relation: 2016 IEEE 34th International Conference on Computer Design (ICCD)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Virtual de-embedding study for the accurate extraction of Fin FET gate resistance

    المؤلفون: Warnock, Shireen, Groves, Rob, Li, Hongmei, Wachnik, Richard, Kotecha, Pooja, Lee, Sungjae, Lu, Ning, Solomon, Paul, Jenkins, Keith

    المصدر: Proceedings of the IEEE 2014 Custom Integrated Circuits Conference Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2014 IEEE Proceedings of the. :1-4 Sep, 2014

    Relation: 2014 IEEE Custom Integrated Circuits Conference - CICC 2014

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Circuits to measure the delay variability of MOSFETs

    المؤلفون: Balakrishnan, Karthik, Jenkins, Keith

    المصدر: 2014 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2014 International Conference on. :127-131 Mar, 2014

    Relation: 2014 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء