يعرض 1 - 8 نتائج من 8 نتيجة بحث عن '"Jeon, Jurim"', وقت الاستعلام: 0.80s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Influence of windows on the phase error of interferometric surface topography of a wafer using wavelength scanning

    المؤلفون: Jeon, Jurim, Kim, YangjinAff1, IDs1220602308337_cor2, Sugita, Naohiko

    المصدر: Journal of Mechanical Science and Technology. 37(9):4809-4816

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Design and Assessment of Phase-Shifting Algorithms in Optical Interferometer

    المؤلفون: Kim, Sungtae, Jeon, Jurim, Kim, YangjinAff1, IDs4068402200495z_cor3, Sugita, Naohiko, Mitsuishi, Mamoru

    المصدر: International Journal of Precision Engineering and Manufacturing-Green Technology. 10(2):611-634

    Find this article in full text from Springer Verlag. Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Simultaneous interferometric profilometry of surface and thickness of transparent plate using wavelength-modulation

    المؤلفون: Kim, Hwan, Jeon, Jurim, Kim, Sungtae, Kim, Yangjin, Sugita, Naohiko

    المصدر: In Optik December 2023 295

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Fringe analysis for thickness estimation of optical glass plate using Fizeau interferometer

    المؤلفون: Jeon, Jurim, Kim, Yangjin, Kim, Sungtae, Hibino, Kenichi, Sugita, Naohiko

    المصدر: In Optics Communications 15 June 2022 513

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Precise interferometric surface profiling of silicon wafer using sampling window and wavelength tuning

    المؤلفون: Jeon, Jurim, Kim, Sungtae, Kim, YangjinAff1

    المصدر: Journal of Mechanical Science and Technology. 35(5):2177-2184

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية
    Measurement of highly reflective surface compensating correlated error by sampling window

    المؤلفون: Busse, Lynda E., Soskind, Yakov, Jeon, Jurim, Kim, Sungtae, Kim, Yangjin

    المصدر: Proceedings of SPIE; March 2022, Vol. 12008 Issue: 1 p120080T-120080T-9, 1080730p

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Measurement of highly reflective surface compensating correlated error by sampling window.

    المؤلفون: Jeon, Jurim, Kim, Sungtae, Kim, Yangjin

    المصدر: Proceedings of SPIE; 12/6/2021, Vol. 12008, p120080T-120080T-9, 1p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء