يعرض 1 - 10 نتائج من 2,961 نتيجة بحث عن '"Jeong, B."', وقت الاستعلام: 1.81s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Jeon, J., Jeong, B., Jeong, Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Consumer Electronics IEEE Trans. Consumer Electron. Consumer Electronics, IEEE Transactions on. 70(1):3131-3140 Feb, 2024

  2. 2
  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Lee, G.H., Lee, K.J., Jeong, B., Kim, T.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:22394-22402 2024

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Jeong, B., Lee, K.J.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:14260-14274 2024

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Jeon, J., Jeong, B., Baek, S., Jeong, Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Information Forensics and Security IEEE Trans.Inform.Forensic Secur. Information Forensics and Security, IEEE Transactions on. 19:2487-2500 2024

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. 71(1):338-347 Jan, 2024

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Jeong, B., Lee, J., Lee, S., Son, Y., Kim, S.Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 70(10):3907-3911 Oct, 2023

  8. 8
    مؤتمر

    المصدر: 2023 11th International Conference on Power Electronics and ECCE Asia (ICPE 2023 - ECCE Asia) Power Electronics and ECCE Asia (ICPE 2023 - ECCE Asia), 2023 11th International Conference on. :3275-3280 May, 2023

    Relation: 2023 11th International Conference on Power Electronics and ECCE Asia (ICPE 2023 - ECCE Asia)

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 23(8):8613-8629 Apr, 2023

  10. 10
    مؤتمر

    المصدر: 2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-3 Mar, 2023

    Relation: 2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS)