المؤلفون: Lin, C.Y., Ogino, A., Lee, C.H., Bang, Y.S., Jeong, B.W., Choi, D.U., Wu, S., Xin, Y., Walsh, B., Manya, C., Sim, J., Angyal, M.

المصدر: 2024 IEEE 33rd Microelectronics Design & Test Symposium (MDTS) Microelectronics Design & Test Symposium (MDTS), 2024 IEEE 33rd. :1-3 May, 2024

Relation: 2024 IEEE 33rd Microelectronics Design & Test Symposium (MDTS)

المؤلفون: Lee, C.H., Jeong, B.W., Wu, S., Kim, M., Chen, X., Onishi, K., Manya, C., Anastos, L., Sim, J., Angyal, M.

المصدر: 2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2022 IEEE 34th International Conference on. :1-3 Mar, 2022

Relation: 2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

المؤلفون: Park, S., Jung, J., Kang, S., Jeong, B.W., Lee, C.-K., Ihm, J.

المصدر: In Journal of the European Ceramic Society 2010 30(6):1519-1526

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.