المؤلفون: Ko, S., Park, J. H., Bak, J. H., Jung, H., Shim, J., Kim, D. S., Lim, W., Jeong, D.-E., Lee, J. H., Lee, K., Park, J.-H., Kim, Y., Kim, C., Jeong, J. H., Lee, C. Y., Han, S. H., Ji, Y., Hwang, S. H., Shin, H. J., Song, Y. J., Shin, Y. G., Song, J. H.

المصدر: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2023

Relation: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits)

المؤلفون: Han, S. H., Lee, J. H., Suh, K. S., Nam, K. T., Jeong, D. E., Oh, S. C., Hwang, S. H., Ji, Y., Lee, K., Song, Y. J., Hong, Y. G., Jeong, G. T.

المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-5 Mar, 2021

Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

المؤلفون: Park, J.-H., Kim, J. H., Kim, J. M., Kim, J., Apalkov, D., Okada, A., Sato, H., Jeong, J. H., Cho, Y. J., Pi, U., Kim, Y., Park, Y. S., Song, K. M., Kim, K., Jeong, D.-E., Kim, D. S., Kim, C., Kim, I., Han, S. H., Lee, K., Lee, J. H., Song, Y. J., Koh, G. H., Kuh, B. J., Lee, J. M., Song, J. H.

المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :10.6.1-10.6.4 Dec, 2022

Relation: 2022 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Lee, T. Y., Lee, J. M., Kim, M. K., Oh, J. S., Lee, J. W., Jeong, H. M., Jang, P. H., Joo, M. K., Suh, K., Han, S. H., Jeong, D.-E., Kai, T., Jeong, J. H., Park, J.-H., Lee, J. H., Park, Y. H., Chang, E. B., Park, Y. K., Shin, H. J., Ji, Y. S., Hwang, S. H., Nam, K. T., Kwon, B. S., Cho, M. K., Seo, B. Y., Song, Y. J., Koh, G. H., Lee, K., Lee, J.-H., Jeong, G. T.

المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :10.7.1-10.7.4 Dec, 2022

Relation: 2022 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Suh, K., Lee, J. H., Shin, H. M., Lee, J. M., Lee, K. M., Hong, Y. J., Han, S. H., Kim, Y. J., Kim, C. K., Pyo, S., Jung, H. T., Ji, Y., Seo, B. I., Hwang, S. H., Kim, D. S., Kim, Y. H., Oh, S. C., Jeong, D. E., Nam, K. T., Kwon, B. S., Cho, M. K., Song, Y. J., Lee, K., Hong, Y. G., Jeong, G. T.

المصدر: 2021 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021

Relation: 2021 Symposium on VLSI Technology

المؤلفون: Song, Y. J., Lee, J. H., Han, S. H., Shin, H. C., Lee, K. H., Suh, K., Jeong, D. E., Koh, G. H., Oh, S. C., Park, J. H., Park, S. O., Bae, B. J., Kwon, O. I., Hwang, K. H., Seo, B.Y., Lee, Y.K., Hwang, S. H., Lee, D. S., Ji, Y., Park, K.C., Jeong, G. T., Hong, H. S., Lee, K. P., Kang, H. K., Jung, E. S.

المصدر: 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2018 IEEE International. :18.2.1-18.2.4 Dec, 2018

Relation: 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.