يعرض 1 - 10 نتائج من 228 نتيجة بحث عن '"Jeong, J. -K"', وقت الاستعلام: 1.25s تنقيح النتائج
  1. 1
    تقرير
    20 K superconductivity in heavily electron doped surface layer of FeSe bulk crystal

    المؤلفون: Seo, J. J., Kim, B. Y., Kim, B. S., Jeong, J. K., Ok, J. M., Kim, J. S., Denlinger, J. D., Kim, C., Kim, Y. K.

    مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Superconductivity

    URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1511.07950

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Improvement in the Photo-Bias Stability of Zinc Tin Oxide Thin-Film Transistors by Introducing a Thermal Oxidized ${\rm TiO}_{2}$ Film as a Hole Carrier Blocking Layer

    المؤلفون: Lee, C.-K., Hwang, A. Y., Yang, H., Kim, D.-H., Bae, J.-U., Shin, W.-S., Jeong, J. K.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 60(12):4165-4172 Dec, 2013

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Effect of Nitrous Oxide High Pressure Annealing on the Performance of Low Temperature, Soluble-Based IZO Transistors

    المؤلفون: Kim, H. J., Son, B. G., Lee, C.-K., Je, S. Y., Won, J. Y., Jeong, J. K.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 35(4):455-457 Apr, 2014

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    MOSFET-Like Behavior of a-InGaZnO Thin-Film Transistors With Plasma-Exposed Source–Drain Bulk Region

    المؤلفون: Jeong, J., Hong, Y., Jeong, J. K., Park, J.-S., Mo, Y.-G.

    المصدر: Journal of Display Technology J. Display Technol. Display Technology, Journal of. 5(12):495-500 Dec, 2009

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Improvement in Photo-Bias Stability of High-Mobility Indium Zinc Oxide Thin-Film Transistors by Oxygen High-Pressure Annealing

    المؤلفون: Park, S. Y., Song, J. H., Lee, C.-K., Son, B. G., Kim, H. J., Choi, R., Choi, Y. J., Kim, U. K., Hwang, C. S., Jeong, J. K.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 34(7):894-896 Jul, 2013

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Suppression in negative bias illumination stress instability of zinc tin oxide transistor by insertion of thermal TiOx films

    المؤلفون: Lee, C.-K., Jung, H. Y., Park, S. Y., Son, B. G., Kim, H. J., Choi, R., Kim, D.-H., Bae, J.-U., Shin, W.-S., Jeong, J. K.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 34(2):253-255 Feb, 2013

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Comparative Study on Light-Induced Bias Stress Instability of IGZO Transistors With $\hbox{SiN}_{x}$ and $ \hbox{SiO}_{2}$ Gate Dielectrics

    المؤلفون: Ji, K. H., Kim, J.-I., Mo, Y.-G., Jeong, J. H., Yang, S., Hwang, C.-S., Park, S.-H. K., Ryu, M.-K., Lee, S.-Y., Jeong, J. K.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 31(12):1404-1406 Dec, 2010

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    High-Performance Al–Sn–Zn–In–O Thin-Film Transistors: Impact of Passivation Layer on Device Stability

    المؤلفون: Yang, S., Cho, D.-H., Ryu, M. K., Park, S.-H. K., Hwang, C.-S., Jang, J., Jeong, J. K.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 31(2):144-146 Feb, 2010

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    Flexible Full-Color AMOLED on Ultrathin Metal Foil

    المؤلفون: Jeong, J. K., Jin, D. U., Shin, H. S., Lee, H. J., Kim, M., Ahn, T. K., Lee, J., Mo, Y. G., Chung, H. K.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 28(5):389-391 May, 2007

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View record in Scopus
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء