يعرض 1 - 6 نتائج من 6 نتيجة بحث عن '"Jeong, Junhee"', وقت الاستعلام: 1.07s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Through-Focus Optical Scanning Microscopy for Embedded Defect Detection and Classification

    المؤلفون: Lee, Jun Ho, Joo, Ji Yong, Lee, Jung Bin, Park, Ji Won, Jeong, Junhee, Kwon, Oh-hyung

    المصدر: 2022 IEEE 24th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2022 IEEE 24th. :873-875 Dec, 2022

    Relation: 2022 IEEE 24th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Numerical and experimental validation of vortex generator effect on power performance improvement in MW-class wind turbine blade

    المؤلفون: Moon, Hyeongi, Jeong, Junhee, Park, Sunho, Ha, Kwangtae, Jeong, Jae-Ho

    المصدر: In Renewable Energy August 2023 212:443-454

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية
    Comparative near infrared through-focus scanning optical microscopy for 3D memory subsurface defect detection and classification

    المؤلفون: Adan, Ofer, Robinson, John C., Lee, Jun Ho, Na, Seokjin, Jeong, Junhee, Buengener, Ralf

    المصدر: Proceedings of SPIE; February 2021, Vol. 11611 Issue: 1 p116110T-116110T-10, 11494901p

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية
    Area-framing optical defect review under optical resolution using multi-NA dark-field microscopy images

    المؤلفون: Ukraintsev, Vladimir A., Adan, Ofer, Lee, Jun Ho, Jeong, Junhee, Park, Chris, Park, Shin-Woong, Kim, Hwi, You, Byeong Geon

    المصدر: Proceedings of SPIE; May 2019, Vol. 10959 Issue: 1 p109592L-109592L-9, 986338p

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية
    Through-focus scanning optical microscopy (TSOM) with adaptive optics

    المؤلفون: Ukraintsev, Vladimir A., Adan, Ofer, Lee, Jun Ho, Park, Gyunam, Jeong, Junhee, Park, Chris

    المصدر: Proceedings of SPIE; March 2018, Vol. 10585 Issue: 1 p105850C-105850C-10, 10479161p

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Comparative near infrared through-focus scanning optical microscopy for 3D memory subsurface defect detection and classification.

    المؤلفون: Adan, Ofer, Robinson, John C., Lee, Jun Ho, Na, Seokjin, Jeong, Junhee, Buengener, Ralf

    المصدر: Proceedings of SPIE; 11/4/2020, Vol. 11611, p116110T-116110T-10, 1p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء