المؤلفون: Park, Y.M., Lee, H., Choi, J.H., Jin, J.K.

المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-5 Aug, 2024

المؤلفون: Choi, J.H., Kim, C.H., Lee, D.K., Kim, K.H., Hahn, S.H., Chu, Y., Kong, J.D., Hong, S.L., Jin, J.K., Hwang, I.S., Kim, Y.S., Park, J.S., Kwon, M., Ahn, H.S., Jang, G.Y., Yun, M.S., Seong, D.K., Kim, Y.H., Lee, Y.W., Shin, H.S.

المصدر: 2009 23rd IEEE/NPSS Symposium on Fusion Engineering Fusion Engineering, 2009. SOFE 2009. 23rd IEEE/NPSS Symposium on. :1-4 Jun, 2009

Relation: 2009 23rd IEEE/NPSS Symposium on Fusion Engineering - SOFE

المؤلفون: Hahn, Sang-hee, Choi, J.H., Jin, J.K., Jeon, Y.M., Yoon, S.W., Kim, J., Bae, Y.S., Park, M.K., Park, K.R., Kim, Y.S., Yang, H.L., Kim, W.C., Oh, Y.K., Kwon, M., Walker, M. L., Humphreys, D.A., Penaflor, B.G., Piglowski, D.A., Johnson, R. D., Welander, A.S., Leuer, J.A., Eidietis, N.W., Hyatt, A.W., Jackson, G.L., Mueller, D.

المصدر: 2009 23rd IEEE/NPSS Symposium on Fusion Engineering Fusion Engineering, 2009. SOFE 2009. 23rd IEEE/NPSS Symposium on. :1-4 Jun, 2009

Relation: 2009 23rd IEEE/NPSS Symposium on Fusion Engineering - SOFE

المؤلفون: Han, Hyunsun, Jeon, Y.M., Hahn, S.H., Ahn, H.S., Bak, J.G., In, Y., Kim, J., Woo, M.H., Kim, H.S., Jin, J.K., Park, B.H., Yoon, S.W.

المصدر: In Fusion Engineering and Design October 2016 108:60-66

المؤلفون: Sang-hee Hahn, Choi, J.H., Jin, J.K., Jeon, Y.M., Yoon, S.W., Kim, J., Bae, Y.S., Park, M.K., Park, K.R., Kim, Y.S., Yang, H.L., Kim, W.C., Oh, Y.K., Kwon, M., Walker, M.L., Humphreys, D.A., Penaflor, B.C., Piglowski, D.A., Johnson, R.D., Welander, A.S.

المصدر: 2009 23rd IEEE/NPSS Symposium on Fusion Engineering; 2009, p1-4, 4p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.