-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2
المؤلفون: James M. MacDonald, K. Ramlaul, N. de Martin Garrido, Arjen J. Jakobi, Colin M. Palmer, Christopher H. S. Aylett, Alister Burt
مصطلحات موضوعية: Micrograph, Cryo-electron microscopy, Computer science, business.industry, 3D reconstruction, Content (measure theory), Detector, Radiation damage, Computer vision, Artificial intelligence, Filter (signal processing), business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bd6f051e549f4b147127a5d442cb5ef7
https://doi.org/10.1101/2020.11.25.398891 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.