-
1
المؤلفون: Syed Naime Mohammad, Chao-Jen Tsou, Afu Chiu, Norman Birnstein, Erick deGouw, Clemens Utzny, Philip Groeger, Stefan Buhl, W.H. Wang, C.H. Huang, Elvis Yang, T.H. Yang, K.C. Chen
المصدر: Optical and EUV Nanolithography XXXVI.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::401cc17af057eb44afb5d446ceb88ba9
https://doi.org/10.1117/12.2657965 -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
المؤلفون: James K.C. Chen, Thitima Sriphon
المصدر: Asia University, Taiwan, Advances in Decision Sciences. 26(1):31-68
-
4
المؤلفون: James K.C. Chen, Pei-Kuan Lin, Hania Aminah, Hanif Rizaldy, Duyen Dinh
المصدر: Proceedings of the 8th International Conference on Industrial and Business Engineering.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c1d1ed9c514956ee8ba9b679af44bd3a
https://doi.org/10.1145/3568834.3568906 -
5دورية أكاديمية
المؤلفون: K.C. Chen, James, Kien Pham, Van
المساهمون: Tugrul U. Daim, Dr
المصدر: foresight, 2014, Vol. 16, Issue 3, pp. 229-249.
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: Li-Ting Chang, Yu-Lin Liu, Chi-Hao Huang, Rishabh S. Kushwaha, Yen C. Chuan Sun, Cheng H. Wu, Shao C. Cheng, Hsiao F. Su, Yen H. Liu, Mars Yang, Elvis Yang, T.H. Yang, K.C. Chen
المصدر: Metrology, Inspection, and Process Control XXXVI.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::446b6e70ce069371b9053c4d60bdca2e
https://doi.org/10.1117/12.2613193 -
8
المؤلفون: Wei-Hung Wang, Irina Brinster, Mohsen Maniat, Fatima Anis, Yen Hui Lee, Sven Bosese, C.F. Tseng, Wei Yuan Chu, Boris Habets, C.H. Huang, Elvis Yang, T.H. Yang, K.C. Chen
المصدر: Metrology, Inspection, and Process Control XXXVI.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b2541cdb4a4f88afc5f3953d30a1b1a3
https://doi.org/10.1117/12.2613202 -
9
المؤلفون: Masahiro Yoshida, Wei-Hung Wang, C.H. Huang, Elvis Yang, T.H. Yang, K.C. Chen, Yosuke Takarada, Yoshiki Sakamoto, Shinichi Egashira, Ken Otani, Tsukasa Saito, Shoshi Katayama, Seiya Miura, Starley Douglas Shelton
المصدر: Metrology, Inspection, and Process Control XXXVI.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8b9d26b51fdcfc35105bd23227efd54b
https://doi.org/10.1117/12.2611020 -
10دورية أكاديمية