-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Kary Chien, Wei-Ting, Lester Yin, YuanziAff1
المصدر: Journal of Failure Analysis and Prevention. 18(6):1490-1502
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: KARY CHIEN, WEI-TING, ATMAN, ZHAO YONG, CHANG, VENSON, WU, JEFF
المصدر: International Journal of Reliability, Quality & Safety Engineering; Aug2013, Vol. 20 Issue 4, p-1, 20p, 2 Diagrams, 1 Chart, 8 Graphs
مصطلحات موضوعية: RISK assessment, SEMICONDUCTOR device reliability, SEMICONDUCTOR failures, SEMICONDUCTOR device testing, DIELECTRICS, RELIABILITY of electronics, SEMICONDUCTOR manufacturing
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Kary Chien, Wei-Ting, Kuo, Way
المصدر: Communications in Statistics: Simulation & Computation; Jan1995, Vol. 24 Issue 4, p953-964, 12p
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Kary Chien, Wei-Ting, Kuo, Way
المصدر: In Computers & Industrial Engineering 1994 27(1):339-343