يعرض 1 - 4 نتائج من 4 نتيجة بحث عن '"KARY CHIEN, WEI-TING"', وقت الاستعلام: 0.84s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Apply DFT Integrated Enhanced EBAC Methodology on Defect Isolations

    المؤلفون: Kary Chien, Wei-Ting, Lester Yin, YuanziAff1

    المصدر: Journal of Failure Analysis and Prevention. 18(6):1490-1502

    Find this article in full text from Springer Verlag. Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    THE TEST-TO-TARGET METHODOLOGIES FOR THE RISK ASSESSMENT OF SEMICONDUCTOR RELIABILITY.

    المؤلفون: KARY CHIEN, WEI-TING, ATMAN, ZHAO YONG, CHANG, VENSON, WU, JEFF

    المصدر: International Journal of Reliability, Quality & Safety Engineering; Aug2013, Vol. 20 Issue 4, p-1, 20p, 2 Diagrams, 1 Chart, 8 Graphs

    مصطلحات موضوعية: RISK assessment, SEMICONDUCTOR device reliability, SEMICONDUCTOR failures, SEMICONDUCTOR device testing, DIELECTRICS, RELIABILITY of electronics, SEMICONDUCTOR manufacturing

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Extensions of the kaplan-meier estimator.

    المؤلفون: Kary Chien, Wei-Ting, Kuo, Way

    المصدر: Communications in Statistics: Simulation & Computation; Jan1995, Vol. 24 Issue 4, p953-964, 12p

    PDF full text from Publisher
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Use of the dirichlet process for reliability analysis

    المؤلفون: Kary Chien, Wei-Ting, Kuo, Way

    المصدر: In Computers & Industrial Engineering 1994 27(1):339-343

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء