-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Ota, K., Yamaguchi, M., Kabuyanagi, S., Fujii, S., Saitoh, M., Yoshikawa, M.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(12):7089-7095 Dec, 2022
-
2مؤتمر
المؤلفون: Degraeve, R., Ravsher, T., Kabuyanagi, S., Fantini, A., Clima, S., Garbin, D., Kar, G.S.
المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-5 Mar, 2021
Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
3مؤتمر
المؤلفون: Kabuyanagi, S., Garbin, D., Fantini, A., Clima, S., Degraeve, R., Donadio, G. L., Devulder, W., Delhougne, R., Cellier, D., Cockburn, A., Kim, W. G., Pakala, M., Suzuki, M., Goux, L., Kar, G. S.
المصدر: 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2020 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2020
Relation: 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Liu, T.C., Kabuyanagi, S., Nishimura, T., Yajima, T., Toriumi, A.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 38(6):716-719 Jun, 2017
-
5دورية
المؤلفون: Ota, K., Yamaguchi, M., Kabuyanagi, S., Fujii, S., Saitoh, M., Yoshikawa, M.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices; December 2022, Vol. 69 Issue: 12 p7089-7095, 7p
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.