المؤلفون: Ota, K., Yamaguchi, M., Kabuyanagi, S., Fujii, S., Saitoh, M., Yoshikawa, M.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(12):7089-7095 Dec, 2022

المؤلفون: Degraeve, R., Ravsher, T., Kabuyanagi, S., Fantini, A., Clima, S., Garbin, D., Kar, G.S.

المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-5 Mar, 2021

Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

المؤلفون: Kabuyanagi, S., Garbin, D., Fantini, A., Clima, S., Degraeve, R., Donadio, G. L., Devulder, W., Delhougne, R., Cellier, D., Cockburn, A., Kim, W. G., Pakala, M., Suzuki, M., Goux, L., Kar, G. S.

المصدر: 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2020 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2020

Relation: 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology

المؤلفون: Liu, T.C., Kabuyanagi, S., Nishimura, T., Yajima, T., Toriumi, A.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 38(6):716-719 Jun, 2017

المؤلفون: Ota, K., Yamaguchi, M., Kabuyanagi, S., Fujii, S., Saitoh, M., Yoshikawa, M.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices; December 2022, Vol. 69 Issue: 12 p7089-7095, 7p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.