المؤلفون: Penumatcha, A., O'Brien, K. P., Maxey, K., Mortelmans, W., Steinhardt, R., Dutta, S., Dorow, C. J., Naylor A., C. H., Kitamura, Kitamura, Zhong, T., Tronic, T., Buragohain, P., Rogan, C., Lin, C-C., Kavrik, M., Lux, J., Oni, A., Vyatskikh, A., Lee, S., Arefin, N., Fischer, P., Clenndenning, S., Radosavljevic, M., Metz, M., Avci, U.

المصدر: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023

Relation: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Dorow, C. J., Schram, T., Smets, Q., O'Brien, K. P., Maxey, K., Lin, C.-C., Panarella, L., Kaczer, B., Arefin, N., Roy, A., Jordan, R., Oni, A., Penumatcha, A., Naylor, C. H., Kavrik, M., Cott, D., Graven, B., Afanasiev, V., Morin, P., Asselberghs, I., Lockhart de La Rosa, C. J., Sankar Kar, G., Metz, M., Avci, U.

المصدر: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023

Relation: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Naylor, C. H., Maxey, K., Jezewski, C., O'Brien, K. P., Penumatcha, A. V., Kavrik, M. S., Agrawal, B., Littlefield, C. V., Lux, J., Barley, B., Weber, J. R., Gupta, A. Sen, Dorow, C. J., Arefin, N., King, S., Chebiam, R., Plombon, J., Clendenning, S. B., Avci, U. E., Kobrinsky, M., Metz, M.

المصدر: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2023

Relation: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.