-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Cote, J., Fan, J., Shen, S., Danialy, G., Lipinski, M., Garbers, M., Yang, W., Keim, M., Glowatz, A., Reynick, J., Patel, A., Michna, J.
المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 39(5):17-25 Oct, 2022
-
2مؤتمر
المؤلفون: Laisne, M., Crouch, A., Portolan, M., Keim, M., von Staudt, H. M., Abdalwahab, M., Van Treuren, B., Rearick, J.
المصدر: 2020 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2020 IEEE International. :1-10 Nov, 2020
Relation: 2020 IEEE International Test Conference (ITC)
-
3تقرير
المؤلفون: Atkinson, M. C., Mahzoon, M. H., Keim, M. A., Bordelon, B. A., Pruitt, C. D., Charity, R. J., Dickhoff, W. H.
المصدر: Phys. Rev. C 101, 044303 (2020)
مصطلحات موضوعية: Nuclear Theory
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1911.09020
-
4تقرير
المؤلفون: Keim, M. A., Callingham, J. R., Röttgering, H. J. A.
المصدر: A&A 628, A56 (2019)
مصطلحات موضوعية: Astrophysics - Astrophysics of Galaxies, Astrophysics - High Energy Astrophysical Phenomena
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1907.07708
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Duggal, R., Rayudu, R., Hinkley, J., Burnell, J., Wieland, C., Keim, M.
المصدر: In Renewable and Sustainable Energy Reviews February 2022 154
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Keim, M.
المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 30(5):36-43 Oct, 2013
-
7مؤتمرAffordable and effective screening of delay defects in ASICs using the inline resistance fault model
المؤلفون: Benware, B., Lu, C., Van Slyke, J., Prabhu Krishnamurthy, Madge, R., Keim, M., Kassab, M., Rajski, J.
المصدر: 2004 International Conferce on Test International test conference Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004. International. :1285-1294 2004
Relation: Proceedings. International Test Conference 2004
-
8مؤتمر
المؤلفون: Engelke, P., Becker, B., Keim, M.
المصدر: Proceedings IEEE European Test Workshop European test workshop Test Workshop, 2000. Proceedings. IEEE European. :63-68 2000
Relation: Proceedings IEEE European Test Workshop
-
9مؤتمر
المؤلفون: Keim, M., Polian, I., Hengster, H., Becker, B.
المصدر: European Test Workshop 1999 (Cat. No.PR00390) European test workshop European Test Workshop 1999. Proceedings. :98-103 1999
Relation: European Test Workshop 1999
-
10مؤتمر
المؤلفون: Keim, M., Drechsler, N., Becker, B.
المصدر: Proceedings of the ASP-DAC '99 Asia and South Pacific Design Automation Conference 1999 (Cat. No.99EX198) Design automation Design Automation Conference, 1999. Proceedings of the ASP-DAC '99. Asia and South Pacific. :315-318 vol.1 1999
Relation: Proceedings of the ASP-DAC '99 Asian and South Pacific Design Automation Conference 1999
Full Text Finder