يعرض 1 - 10 نتائج من 9,423 نتيجة بحث عن '"Keller M"', وقت الاستعلام: 1.07s تنقيح النتائج
  1. 1
  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Industry Applications IEEE Trans. on Ind. Applicat. Industry Applications, IEEE Transactions on. 60(3):3820-3829 Jun, 2024

  3. 3
    مؤتمر

    المصدر: 2023 International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA) ICMLA Machine Learning and Applications (ICMLA), 2023 International Conference on. :376-383 Dec, 2023

    Relation: 2023 International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA)

  4. 4
  5. 5
  6. 6
  7. 7
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. 70(5):5065-5073 May, 2023

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-10 2023

  9. 9
    تقرير

    المؤلفون: Adrover, M., Althueser, L., Andrieu, B., Angelino, E., Angevaare, J. R., Antunovic, B., Aprile, E., Babicz, M., Bajpai, D., Barberio, E., Baudis, L., Bazyk, M., Bell, N., Bellagamba, L., Biondi, R., Biondi, Y., Bismark, A., Boehm, C., Breskin, A., Brookes, E. J., Brown, A., Bruno, G., Budnik, R., Capelli, C., Cardoso, J. M. R., Chauvin, A., Chavez, A. P. Cimental, Colijn, A. P., Conrad, J., Cuenca-García, J. J., D'Andrea, V., Decowski, M. P., Deisting, A., Di Gangi, P., Diglio, S., Doerenkamp, M., Drexlin, G., Eitel, K., Elykov, A., Engel, R., Farrell, S., Ferella, A. D., Ferrari, C., Fischer, H., Flierman, M., Fulgione, W., Gaemers, P., Gaior, R., Galloway, M., Garroum, N., Ghosh, S., Girard, F., Glade-Beucke, R., Glück, F., Grandi, L., Grigat, J., Größle, R., Guan, H., Guida, M., Hammann, R., Hannen, V., Hansmann-Menzemer, S., Hargittai, N., Hasegawa, T., Hils, C., Higuera, A., Hiraoka, K., Hoetzsch, L., Iacovacci, M., Itow, Y., Jakob, J., Jörg, F., Kara, M., Kavrigin, P., Kazama, S., Keller, M., Kilminster, B., Kleifges, M., Kobayashi, M., Kopec, A., von Krosigk, B., Kuger, F., Landsman, H., Lang, R. F., Li, I., Li, S., Liang, S., Lindemann, S., Lindner, M., Lombardi, F., Loizeau, J., Luce, T., Ma, Y., Macolino, C., Mahlstedt, J., Mancuso, A., Undagoitia, T. Marrodán, Lopes, J. A. M., Marignetti, F., Martens, K., Masbou, J., Mastroianni, S., Milutinovic, S., Miuchi, K., Miyata, R., Molinario, A., Monteiro, C. M. B., Morå, K., Morteau, E., Mosbacher, Y., Müller, J., Murra, M., Newstead, J. L., Ni, K., Oberlack, U. G., Ostrovskiy, I., Paetsch, B., Pandurovic, M., Pellegrini, Q., Peres, R., Pienaar, J., Pierre, M., Piotter, M., Plante, G., Pollmann, T. R., Principe, L., Qi, J., Qin, J., Silva, M. Rajado, García, D. Ramírez, Razeto, A., Sakamoto, S., Sanchez, L., Sanchez-Lucas, P., Santos, J. M. F. dos, Sartorelli, G., Scaffidi, A., Schulte, P., Schultz-Coulon, H. -C., Eißing, H. Schulze, Schumann, M., Lavina, L. Scotto, Selvi, M., Semeria, F., Shagin, P., Sharma, S., Shen, W., Silva, M., Simgen, H., Singh, R., Solmaz, M., Stanley, O., Steidl, M., Tan, P. L., Terliuk, A., Thers, D., Thümmler, T., Tönnies, F., Toschi, F., Trinchero, G., Trotta, R., Tunnell, C., Urquijo, P., Valerius, K., Vecchi, S., Vetter, S., Volta, G., Vorkapic, D., Wang, W., Weerman, K. M., Weinheimer, C., Weiss, M., Wenz, D., Wittweg, C., Wolf, J., Wolf, T., Wu, V. H. S., Wurm, M., Xing, Y., Yamashita, M., Ye, J., Zavattini, G., Zuber, K.

    مصطلحات موضوعية: Physics - Instrumentation and Detectors

  10. 10