يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Ken Vaz"', وقت الاستعلام: 1.90s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Error reducing techniques for the scattering parameter characterization of differential networks using a two-port network analyzer

    المؤلفون: Ken Vaz, Ka Mun Ho, Caggiano, M.

    المصدر: 28th International Spring Seminar on Electronics Technology: Meeting the Challenges of Electronics Technology Progress, 2005. Electronics Technology: Meeting the Challenges of Electronics Technology Progress, 2005. 28th International Spring Seminar on. :342-347 2005

    Relation: 2005 28th International Spring Seminar on Electronics Technology: Meeting the Challenges of Electronics Technology Progress

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء