-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Andersen, O., Wisell, D., Stenvard, P., Keskitalo, N.
المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 58(2):248-254 Feb, 2009
-
2مؤتمر
المؤلفون: Wisell, D., Isaksson, M., Keskitalo, N., Ronnow, D.
المصدر: 2006 67th ARFTG Conference ARFTG Conference, 2006 67th. :190-199 Jun, 2006
Relation: 2006 67th ARFTG Conference
-
3
المؤلفون: Keskitalo, N. (Niilo)
مصطلحات موضوعية: Tuotantotalous
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2423::45af3e1b543d33fed45a1bbc9c7d3cf3
http://jultika.oulu.fi/Record/nbnfioulu-202305051540 -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Isberg, M., Jonsson, P., Keskitalo, N., Masszi, F., Bleicher, H.
المصدر: COMPEL -The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 1997, Vol. 16, Issue 3, pp. 144-156.
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Lalita, J., Pellegrino, P., Hallén, A., Svensson, B. G., Keskitalo, N., Fatima, S., Jagadish, C.
المصدر: MRS Online Proceedings Library. 469(1):239-244
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Keskitalo, N.Aff131, Hallén, A., Lalita, J., Svensson, B. G.
المصدر: MRS Online Proceedings Library. 469(1):233-238
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Forsberg, M ∗, Keskitalo, N, Olsson, J
المصدر: In Microelectronic Engineering 2002 60(1):149-155
-
8
المؤلفون: Wisell, David, Keskitalo, N.
المصدر: 2006 68th ARFTG Conference on Measurement for Emerging Technologies, ARFTG 2006.
وصف الملف: print
-
9
المؤلفون: Keskitalo, N. (Niko)
مصطلحات موضوعية: Information Processing Science
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2423::f00438a5b90e18d559b96117cc7f3052
http://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201605251931 -
10
المؤلفون: Andersen, O., Wisell, David, Keskitalo, N., Stenvard, P.
المصدر: 2007 IEEE Autotestcon IEEE Autotestcon. :660-668
مصطلحات موضوعية: Analysis capabilities, Carrier leakage, Continuous wave, Down converters, EDGE technology, Flexible architectures, Hardware and software, Increased flexibility, Integrated diagnostics, Life-cycle cost, Measurement technologies, Mobile communication systems, Modular instrumentation, Modularization, Rapid development, Signal generation, State of the arts, Wide-band code division multiple access
وصف الملف: print
Full Text Finder 
Find this article in full text from Springer Verlag.