-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Li, Z., Mobin, M., Keyser, T.
المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 65(2):769-781 Jun, 2016
-
2
-
3مؤتمر
المؤلفون: Dolny, G., Ipri, A., Hsueh, F.-L., Stewart, R., Khormaei, R., Thayer, S., Keyser, T., Becker, G., Spitzer, M., Batty, M.
المصدر: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting Electron devices Electron Devices Meeting, 1993. IEDM '93. Technical Digest., International. :930-932 1993
Relation: Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5مؤتمر
المؤلفون: Ipri, A.C., Dolny, G., Hsueh, F., Stewart, R.G., Jose, D., Spitzer, M., Vu, D.-P., Batty, M., Khormaei, R., Thayer, S., Keyser, T., Becker, G., Tilton, M., Rhoades, R.
المصدر: Proceedings. IEEE International SOI Conference SOI conference SOI Conference, 1994 Proceedings., 1994 IEEE International. :97-98 1994
Relation: Proceedings of 1994 IEEE International SOI Conference
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
-
8
-
9
-
10