يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Khadhra, Kais Ben"', وقت الاستعلام: 0.88s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Permittivity estimation of rough dielectric surfaces by means of polarimetric bistatic measurements at millimeter wave frequencies

    المؤلفون: Khadhra, Kais Ben, Olk, Andreas, Gomez, Oscar, Fox, Andreas

    المصدر: 2019 49th European Microwave Conference (EuMC) European Microwave Conference (EuMC), 2019 49th. :1004-1007 Oct, 2019

    Relation: 2019 49th European Microwave Conference (EuMC)

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    Surface parameter estimation using bistatic polarimetric x-band measurements

    المساهمون: Khadhra, Kais Ben

    الإتاحة: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-200801439

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء