يعرض 1 - 10 نتائج من 50 نتيجة بحث عن '"Kim, Keeho"', وقت الاستعلام: 1.65s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    A Workflow of Hotspot Prediction based on Semi-Supervised Machine Learning Methodology

    المؤلفون: Zhang, Wenwen, Chen, Ken, Li, Xiaomei, Ma, Yuansheng, Zhu, Cynthia, Chen, Baron, Gao, Xing, Kim, Keeho

    المصدر: 2021 International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS) Advanced Patterning Solutions (IWAPS), 2021 International Workshop on. :1-3 Dec, 2021

    Relation: 2021 International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS)

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية
    Co-optimization of optical and resist models in the OPC modeling process using in-house genetic algorithm

    المؤلفون: Kim, Ryoung-Han, Lafferty, Neal V., Pan, Yinuo, Wang, Yingfang, Chen, Norman, Kim, Keeho, Parent, Eric

    المصدر: Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12495 Issue: 1 p124951Q-124951Q-7, 1124567p

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Etching characteristics of photoresist and low- k dielectrics by Ar/O 2 ferrite-core inductively coupled plasmas

    المؤلفون: Kim, Hyoun Woo, Lee, Jong Woo, Hwang, Woon Suk, O, Beom Hoan, Lee, Seung Gol, Park, Se-Geun, Kim, Joohee, Chung, Duck Jin, Chang, Sung Pil, Joo, Young-Chang, Joo, Junghoon, Chung, Chin Wook, Park, Wan Jae, Kang, Chang-Jin, Joo, Sukho, Park, Soon Oh, Yoo, Chung-Gon, Kim, Sung Kyeong, Lee, Joung Ho, Cho, Sang-Deog, Choi, Dae-Kyu, Kim, Keeho, Jang, Jeong-Yeol

    المصدر: In Microelectronic Engineering 2008 85(2):300-303

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    The influence of thiourea on copper electrodeposition: Adsorbate identification and effect on electrochemical nucleation

    المؤلفون: Kang, Moo Seong, Kim, Soo-Kil, Kim, Keeho, Kim, Jae Jeong

    المصدر: In Thin Solid Films 2008 516(12):3761-3766

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Examination of Tobin's q for Takeover Firms

    المؤلفون: Kim, Keeho, Henderson,, Glenn V., Garrison, Sharon Hatten

    المصدر: Quarterly Journal of Business and Economics, 1993 Jan 01. 32(1), 3-26.

    URL الوصول: https://www.jstor.org/stable/40473073

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Co-optimization of optical and resist models in the OPC modeling process using in-house genetic algorithm.

    المؤلفون: Pan, Yinuo, Wang, Yingfang, Chen, Norman, Kim, Keeho, Parent, Eric

    المصدر: Proceedings of SPIE; 4/8/2023, Vol. 12495, p124951Q-124951Q-7, 1p

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    Methodology to set-up accurate OPC model using optical CD metrology and atomic force microscopy.

    المؤلفون: Shim, Yeon-Ah, Kang, Jaehyun, Lee, Sang-Uk, Kim, Jeahee, Kim, Keeho

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65180C-65180C-8, 8p

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Optimization of lithography process to improve image deformation of contact hole sub-90 nm technology node.

    المؤلفون: Jun, Sungho, Kim, Juhyun, Jeong, Eunsoo, Yun, Youngje, Kim, Jaehee, Kim, Keeho

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65183T-65183T-8, 8p

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Resolution enhancement technique using oxidation process with nitride hardmask process.

    المؤلفون: Jeong, Eunsoo, Kim, Jaehee, Kim, Keeho, Kim, Daeyoung, Lim, Hyunju

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65183V-65183V-7, 7p

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Enhanced hole shape of flash devices in ArF lithography by eliptical mask bias technique.

    المؤلفون: Jeon, Young-Doo, Jun, Sungho, Kang, Jae-Hyun, Lee, Sang-Uk, Kim, Jeahee, Kim, Keeho

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65183W-65183W-8, 8p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء