-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Teng, Y., Chao, H., Chang, W., Jeng Lin, B., Chih, Y., Chang, J., Jung Lin, C., King, Y.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3739-3745 Jun, 2024
-
2دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3614-3619 Jun, 2024
-
3دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(4):2399-2403 Apr, 2024
-
4دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(2):1313-1319 Feb, 2024
-
5
-
6دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(4):2001-2008 Apr, 2023
-
7دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(12):6971-6976 Dec, 2022
-
8دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 68(10):4972-4976 Oct, 2021
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Wang, S.J., Yang, C., Lin, B.J., Lin, C.J., King, Y.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 68(9):4651-4655 Sep, 2021
-
10دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 21(2):207-214 Jun, 2021