يعرض 1 - 10 نتائج من 853 نتيجة بحث عن '"King, Y."', وقت الاستعلام: 1.17s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3739-3745 Jun, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3614-3619 Jun, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(4):2399-2403 Apr, 2024

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(2):1313-1319 Feb, 2024

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(11):5713-5719 Nov, 2023

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(4):2001-2008 Apr, 2023

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Yang, K., Gan, T., Shih, J., Lin, C.J., King, Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(12):6971-6976 Dec, 2022

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 68(10):4972-4976 Oct, 2021

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 68(9):4651-4655 Sep, 2021

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Lin, M., King, Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 21(2):207-214 Jun, 2021