-
1مؤتمر
المؤلفون: Kim, Ki-Nam, Ko, Woon-San, Byun, Jun-Ho, Lee, Do-Yeon, Kim, Eun-Gi, Koo, Eun-A, Kwon, So-Yeon, Lee, Ga-Won
المصدر: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023 7th IEEE. :1-3 Mar, 2023
Relation: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Byun, Jun-Ho, Ko, Woon-San, Kim, Ki-Nam, Lee, Do-Yeon, Kim, Eun-Gi, Koo, Eun-A, Kwon, So-Yeon, Lee, Ga-Won
المصدر: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023 7th IEEE. :1-3 Mar, 2023
Relation: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
-
3مؤتمر
المؤلفون: Ko, Woon-San, Song, Myeong Ho, Kim, Ki-Nam, Byun, Jun-Ho, Lee, Do-Yeon, Kim, Eun-gi, Koo, Eun-A, Kwon, So-Yeon, Kim, Geun-Ho, Choi, Dong-Hyeuk, Lee, Ga-Won
المصدر: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023 7th IEEE. :1-3 Mar, 2023
Relation: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
-
4مؤتمر
المؤلفون: Kim, Seongho, Park, Young Keun, Lee, Gyu Soup, Shin, Eui Joong, Ko, Woon San, Lee, Hi Deok, Lee, Ga Won, Cho, Byung Jin
المصدر: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2023
Relation: 2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Lee, Do-Yeon, Ko, Woon-San, Kim, Ki-Nam, Byun, Jun-Ho, Kim, Eun-Gi, Kwon, So-Yeon, Lee, Ga-Won
المصدر: In Solid State Electronics June 2024 216
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Kwon, So-Yeon, Ko, Woon-San, Byun, Jun-Ho, Lee, Do-Yeon, Lee, Hi-Deok, Lee, Ga-Won
المصدر: Electronic Materials; Jun2024, Vol. 5 Issue 2, p71-79, 9p
مصطلحات موضوعية: RANDOM access memory, ZINC oxide, X-ray diffraction, GIBBS' free energy, OXYGEN
-
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.