يعرض 1 - 10 نتائج من 22 نتيجة بحث عن '"Koh, Risho"', وقت الاستعلام: 1.72s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Circuit Under on-chip-inductor structure (CUL) for the areal size reduction of Si-based RF circuit

    المؤلفون: Uchida, Shinichi, Kuwajima, Teruhiro, Koh, Risho, Kuramoto, Takafumi, Ono, Akio, Kamada, Takuho, Iida, Tetsuya, Matsumoto, Akira, Nakashiba, Yasutaka

    المصدر: 2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM), 2019. :10-12 Mar, 2019

    Relation: 2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    A SPICE-compatible model of SG-MONOS for 28nm flash macro design considering the parasitic resistance caused by trapped charges

    المؤلفون: Koh, Risho, Miyamori, Mitsuru, Tsuneno, Katsumi, Muta, Tetsuya, Kawashima, Yoshiyuki

    المصدر: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017 International Conference on. :145-148 Sep, 2017

    Relation: 2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Accurate spice modeling of 80V power LDMOS with interdigitated source structure

    المؤلفون: Tamegaya, Yukio, Koh, Risho, Hatanaka, Yukichi, Iizuka, Takahiro

    المصدر: 2012 24th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2012 24th International Symposium on. :101-104 Jun, 2012

    Relation: 2012 24th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Self-heating parameter extraction of power MOSFETs based on transient drain current measurements and on the 2-cell self-heating model

    المؤلفون: Koh, Risho, Iizuka, Takahiro

    المصدر: 2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2012 IEEE International Conference on. :191-195 Mar, 2012

    Relation: 2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    A Study of the Threshold Voltage Variation for Ultra-Small Bulk and SOI CMOS.

    المؤلفون: Takeuchi, Kiyoshi, Koh, Risho, Mogami, Tohru

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices; Sep2001, Vol. 48 Issue 9, p1995, 7p, 3 Black and White Photographs, 1 Diagram, 1 Chart, 8 Graphs

    مصطلحات موضوعية: SILICON-on-insulator technology, COMPLEMENTARY metal oxide semiconductors, METAL oxide semiconductor field-effect transistors

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية
    Simulated Threshold Voltage Adjustment and Drain Current Enhancement in Novel Striped-Gate Nondoped-Channel Fully Depleted SOI-MOSFETs

    المؤلفون: Koh, Risho

    المصدر: Japanese Journal of Applied Physics; April 2000, Vol. 39 Issue: 4 p2229-2229, 1p

    View this record from the Institute of Physics Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية
    Buried Layer Engineering to Reduce the Drain-Induced Barrier Lowering of Sub-0.05 µm SOI-MOSFET

    المؤلفون: Risho Koh, Risho Koh

    المصدر: Japanese Journal of Applied Physics; April 1999, Vol. 38 Issue: 4 p2294-2294, 1p

    View this record from the Institute of Physics Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء